FIB試料調整用試料台(Fine Grid)

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 Fine GridはTEM(透過型電子顕微鏡)での観察・分析等の為に、FIB(集束イオンビーム)加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。高精度なFIB試料調整用試料台であるFine Gridは極めて薄い試料固定部を持つFGシリーズと多様な素材金属を選択できるGSシリーズがございます。多様な分析試料に応じて最適なグリッドをご使用頂くことができます。

  •  極めて薄い(5μm)試料固定部により、薄片化時のリデポジションの低減による分析精度の向上が期待できます。
    • FG-002
    • ●材質/モリブデン
      ●厚み/ベース部:約30μm
          固定部:約10μm
          固定部先端:約5μm
      ●入り数:25pcs/セット
    •   固定部先端拡大SEM写真
  • ※厚みに関しましては保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
  •  多様な素材をラインナップしておりますので、分析対象に応じて最適なグリッドを選択頂けます。
    • SG-001
    • ●材質/モリブデン
      ●厚み/全体:約30μm
          先端固定部:約15μm
      ●入り数/25pcs/セット
    • SG-003Cu
    • ●材質/銅
      ●厚み/全体:約30μm
      ●入り数/30pcs/セット
    • SG-002Mo
    • ●材質/モリブデン
      ●厚み/全体:約30μm
          先端固定部:約15μm
      ●入り数/25pcs/セット
    • SG-003Ti
    • ●材質/チタン
      ●厚み/全体:約30μm
      ●入り数/20pcs/セット
    • SG-003Ni
    • ●材質/ニッケル
      ●厚み/全体:約30μm
      ●入り数/30pcs/セット
  • ※厚みに関しましては保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
  • カタログのダウンロードはイプロスの専用ページからどうぞ。