HOME ⁄ Fine Grid/FIB試料調整用試料台

Fine GridはTEM(透過型電子顕微鏡)での観察・分析等の為に、FIB(集束イオンビーム)加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。高精度なFIB試料調整用試料台であるFine Gridは極めて薄い試料固定部を持つFGシリーズと多様な素材金属を選択できるGSシリーズがございます。多様な分析試料に応じて最適なグリッドをご使用頂くことができます。

サイズ
ベース部直径/約3㎜
厚み/ベース部 :約30μm
   固定部  :約10μm
   固定部先端:約5μm
※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
素材
モリブデン
説明
入り数:25pcs/セット
カタログ
ipros
サイズ
ベース部直径/約3㎜
厚み/全体   :約30μm
  /先端固定部:約15μm
※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
素材
モリブデン
説明
入り数:25pcs/セット
カタログ
ipros
サイズ
ベース部直径/約3㎜
厚み/全体   :約30μm
   試料固定部:約15μm
※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
素材
モリブデン
説明
入り数:25pcs/セット
カタログ
ipros
サイズ
ベース直径/約3㎜
厚み/約30μm
※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
素材
説明
入り数:30pcs/セット
カタログ
ipros
サイズ
ベース部直径/約3㎜
厚み/30μm
※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
素材
ニッケル
説明
入り数:30pcs/セット
カタログ
ipros
サイズ
ベース部直径/約3㎜
厚み/約30μm
※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。
素材
チタン
説明
入り数:20pcs/セット
カタログ
ipros
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